理学X射线粉末街射仪(SmartlabSE)
品牌:Rigaku
型号:SmartLab SE
技术参数:
测角仪采用双光学编码器技术与马达双重定位,配有小广角散射模块和原位高温反应单元
用途:
测量粉末、单晶或多晶体等块体材料,进行纳米级材料的物相分析、体相结构信息、晶粒度大小与纳米颗粒大小关系等检测,检测快速、操作简单、数据处理方便。